Storyboard

Partículas energéticas desplazan átomos de la red (daño por desplazamiento) o depositan carga que puede voltear el estado de un nodo de memoria (single event upset).

ID:('ky', 1741)

Storyboard

$\Phi_{t+\Delta t}=\Phi_t+\phi,\Delta t$

Variables

$Phi$

Fluencia acumulada

$1/m²$

$phi$

Flujo de partículas

$1/m²s$

$Delta t$

Paso temporal

$s$

ID:('gm', 15000)

Storyboard

$N_d=K_{damage}NIEL\Phi$

Variables

$K_{damage}$

Constante de daño

$1$

$N_d$

Densidad relativa de defectos desplazados

$1$

$NIEL$

Pérdida no ionizante equivalente

$1$

$Phi$

Fluencia acumulada

$1/m²$

ID:('gm', 15001)

Storyboard

$\tau_a=\frac{1}{\frac{1}{\tau_b}+K_\tau\Phi}$

Variables

$Phi$

Fluencia acumulada

$1/m²$

$K_ au$

Constante Messenger-Spratt

$m²$

$ au_a$

Vida media degradada

$s$

$ au_b$

Vida media inicial

$s$

ID:('gm', 15002)

Storyboard

$Q_{crit}=CV_{dd}$

Variables

$Q_{crit}$

Carga crítica para upset

$C$

$C$

Capacitancia del nodo

$F$

$V_{dd}$

Voltaje de alimentación

$V$

ID:('gm', 15003)

Storyboard

$SEU=1\ \text{si}\ Q_{dep}\ge Q_{crit}$

Variables

$SEU$

Condición lógica de upset

$1$

$Q_{crit}$

Carga crítica para upset

$C$

$Q_{dep}$

Carga depositada/colectada

$C$

ID:('gm', 15004)

Storyboard

$P_{SEU}=1-e^{-\sigma_{SEU}\Phi,SEU}$

Variables

$SEU$

Condición lógica de upset

$1$

$P_{SEU}$

Probabilidad acumulada de upset

$1$

$Phi$

Fluencia acumulada

$1/m²$

$sigma_{SEU}$

Sección eficaz de upset

$m²$

ID:('gm', 15005)