Storyboard

La resistencia de un cerámico no es un valor único sino una distribución estadística, por la aleatoriedad en tamaño y ubicación de los defectos internos; parte de la relación de Griffith (reuso de Metalurgia A2).

ID:('ky', 1627)

Storyboard

$P_f=1-\exp[-(V_{eff}/V_0)(\sigma/\sigma_0)^m]$

Variables

$m$

Módulo de Weibull

$1$

$P_f$

Probabilidad de falla

$1$

$sigma_0$

Escala de Weibull

$Pa$

$sigma$

Tensión aplicada

$Pa$

$V_0$

Volumen de referencia

$m³$

$V_{eff}$

Volumen efectivo

$m³$

ID:('gm', 14281)

Storyboard

$R=\exp[-(V_{eff}/V_0)(\sigma/\sigma_0)^m]$

Variables

$R$

Confiabilidad

$1$

$m$

Módulo de Weibull

$1$

$sigma_0$

Escala de Weibull

$Pa$

$sigma$

Tensión aplicada

$Pa$

$V_0$

Volumen de referencia

$m³$

$V_{eff}$

Volumen efectivo

$m³$

ID:('gm', 14282)

Storyboard

$\bar{\sigma}=\sigma_0\Gamma(1+1/m)$

Variables

$m$

Módulo de Weibull

$1$

$sigma_0$

Escala de Weibull

$Pa$

$ar{sigma}$

Resistencia media

$Pa$

ID:('gm', 14283)

Storyboard

$\sigma_{scale}=\sigma_0(V_0/V_{eff})^{1/m}$

Variables

$m$

Módulo de Weibull

$1$

$sigma_0$

Escala de Weibull

$Pa$

$sigma_{scale}$

Resistencia equivalente por escala

$Pa$

$V_0$

Volumen de referencia

$m³$

$V_{eff}$

Volumen efectivo

$m³$

ID:('gm', 14284)

Storyboard

$\sigma_f=\sqrt{2E_Y\gamma_s/(\pi a_c)}$

Variables

$E_Y$

Módulo de Young

$Pa$

$sigma_f$

Tensión crítica Griffith

$Pa$

$gamma_s$

Energía superficial

$J/m²$

$a_c$

Tamaño crítico del defecto

$m$

ID:('gm', 14285)

Storyboard

$\sigma(t+\Delta t)=\sigma(t)+\dot{\sigma}\Delta t$

Variables

$sigma$

Tensión aplicada

$Pa$

$dot{sigma}$

Velocidad de carga

$Pa/s$

$Delta t$

Paso temporal

$s$

ID:('gm', 14286)