Benützer:
D2.1 Rasterkraftmikroskopie (AFM)
Title
Die Rasterkraftmikroskopie ist eine diagnostische Technik zur Messung nanometrischer Kräfte zwischen Spitze und biologischer Oberfläche.
Seine Grundlage liegt in der kontrollierten Auslenkung hochempfindlicher Mikrocantilever.
Darüber hinaus befasst sich diese Disziplin mit der lokalen Adhäsionsanalyse, die die Untersuchung einzelner Pilze ermöglicht.
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