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Physique appliquée
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Entomologie
D Diagnostic et mesures
D2 Caractérisation des adhésifs
D21 Microscopie à force atomique (AFM)
D22 Essais de décollage contrôlé
D23 Mesure des forces de Van der Waals
D24 Analyse topographique des surfaces
D25 Tribométrie des contacts
D2 Caractérisation des adhésifs
Topique
ID:2508
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